Мир Физики и техники. Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении Мир Физики и техники. Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении Метод дифракции отраженных электронов (ДОЭ или EBSD) был разработан относительно давно на основе метода картин каналирования электронов в растровых электронных микроскопах (РЭМ), но широкое практическое применение данного метода в научных и прикладных исследованиях началось лишь в середине 90-х годов прошлого века. Развитие данного метода было неразрывно связано с успехами в компьютерной технике и высокочувствительных цифровых камер, поскольку максимальный эффект от его применения мог быть получен только при высоком быстродействии систем регистрации дифракционных картин и быстрой компьютерной обработке полученной цифровой информации. Метод дифракции отраженных электронов (ДОЭ), используемый в растровом электронном микроскопе (РЭМ) в качестве дополнительного аналитического метода, позволяет на поверхности массивных поликристаллов без труда определять ориентации отдельных зерен, локальную текстуру, корреляцию ориентаций между точками и идентифицировать фазы и двумерные распределения фаз по поверхности образца. Техносфера 978-5-94836-385-1
1062 руб.
Russian
Каталог товаров

Мир Физики и техники. Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении

Временно отсутствует
?
  • Описание
  • Характеристики
  • Отзывы о товаре
  • Отзывы ReadRate
Метод дифракции отраженных электронов (ДОЭ или EBSD) был разработан относительно давно на основе метода картин каналирования электронов в растровых электронных микроскопах (РЭМ), но широкое практическое применение данного метода в научных и прикладных исследованиях началось лишь в середине 90-х годов прошлого века. Развитие данного метода было неразрывно связано с успехами в компьютерной технике и высокочувствительных цифровых камер, поскольку максимальный эффект от его применения мог быть получен только при высоком быстродействии систем регистрации дифракционных картин и быстрой компьютерной обработке полученной цифровой информации. Метод дифракции отраженных электронов (ДОЭ), используемый в растровом электронном микроскопе (РЭМ) в качестве дополнительного аналитического метода, позволяет на поверхности массивных поликристаллов без труда определять ориентации отдельных зерен, локальную текстуру, корреляцию ориентаций между точками и идентифицировать фазы и двумерные распределения фаз по поверхности образца.

Оставить заявку на описание
?
Штрихкод:   9785948363851
Аудитория:   Для специалистов
Бумага:   Офсет
Масса:   1 163 г
Размеры:   215x 145x 30 мм
Тираж:   1 500
Литературная форма:   Монография
Сведения об издании:   Переводное издание
Тип иллюстраций:   Черно-белые, Рисунки
Составитель:   Шварц А.
Отзывы
Найти пункт
 Выбрать станцию:
жирным выделены станции, где есть пункты самовывоза
Выбрать пункт:
Поиск по названию улиц:
Подписка 
Введите Reader's код или e-mail
Периодичность
При каждом поступлении товара
Не чаще 1 раза в неделю
Не чаще 1 раза в месяц
Мы перезвоним

Возникли сложности с дозвоном? Оформите заявку, и в течение часа мы перезвоним Вам сами!

Captcha
Обновить
Сообщение об ошибке

Обрамите звездочками (*) место ошибки или опишите саму ошибку.

Скриншот ошибки:

Введите код:*

Captcha
Обновить